在半導體制造中，晶圓自動聚焦檢測技術至關重要，雙翌光電的晶圓探針自動測試應用軟件V1.0，集成了自動聚焦功能，可確保探針與晶圓精準對接。該軟件支持多功能檢測，涵蓋表面缺陷分析、電氣性能測試等，檢測精度達到微米級。通過自動聚焦與微米級精度，軟件有效提升了檢測效率與準確性，降低了因對位偏差導致的檢測誤差，為半導體制造商提供了可靠的晶圓檢測解決方案。
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